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固緯gwinstek推出GDS-3000系列示波器
日期：2012-08-02瀏覽：2451次
固緯gwinstekGDS-3000系列示波器特點(diǎn)
1*全系列頻寬覆蓋500MHz范圍,提供2/4輸入通道,
2*雙取樣模式:zui高5GSa/s實(shí)時(shí)取樣率及100GSa/s等效取樣率
3*強(qiáng)大的VPO訊號(hào)處理技術(shù)，快速洞察異常訊號(hào)
4*8英吋800*600高分辨率大尺寸畫面,能更舒適的檢視復(fù)雜訊號(hào)的細(xì)節(jié)
5**的分割窗口功能，能同時(shí)獨(dú)立觸發(fā)及獨(dú)立顯示四個(gè)信道的波形訊號(hào)
6*彈性的GWApp應(yīng)用軟件平臺(tái),軟件擴(kuò)充/升級(jí)更容易
7*可選擇50Ω/75Ω/1MΩ三種不同的輸入阻抗
8*可選配功率量測(cè)軟件以進(jìn)行電源質(zhì)量測(cè)試與分析
9*可選配串行總線的觸發(fā)、譯碼功能.軟件可支持I2C,SPI以及UART
固緯gwinstek推出GDS-3000系列示波器采用VP（VisualPersistenceOscilloscope）信號(hào)處理技術(shù)以高速波型更新率以及多層次余輝顯示來提高波型顯示能力的效能。GDS-3000系列的設(shè)計(jì)采用了高速FPGA并列處理模式，取代了傳統(tǒng)的微處理器架構(gòu)，大大地提高數(shù)據(jù)處理速度及波形的獲取速率，VPO技術(shù)使GDS-3000系列能對(duì)于測(cè)試訊號(hào)所發(fā)生的頻率度能以類似模擬示波器的多層次余輝來表示。由于ＶＰＯ技術(shù)示波器對(duì)于所顯示的訊號(hào)皆包含振幅，時(shí)間和訊號(hào)強(qiáng)度之三維波形數(shù)據(jù)來顯示每個(gè)波點(diǎn)，相較于一般傳統(tǒng)的數(shù)字儲(chǔ)存示波器，GDS-3000提供了更多的有用的信息于畫面上。高速波形擷取技術(shù)，可以對(duì)快速的事件如視頻，抖動(dòng)，噪聲和矮波信號(hào)作更的分析.
1*全系列頻寬覆蓋500MHz范圍,提供2/4輸入通道,
2*雙取樣模式:zui高5GSa/s實(shí)時(shí)取樣率及100GSa/s等效取樣率
3*強(qiáng)大的VPO訊號(hào)處理技術(shù)，快速洞察異常訊號(hào)
4*8英吋800*600高分辨率大尺寸畫面,能更舒適的檢視復(fù)雜訊號(hào)的細(xì)節(jié)
5**的分割窗口功能，能同時(shí)獨(dú)立觸發(fā)及獨(dú)立顯示四個(gè)信道的波形訊號(hào)
6*彈性的GWApp應(yīng)用軟件平臺(tái),軟件擴(kuò)充/升級(jí)更容易
7*可選擇50Ω/75Ω/1MΩ三種不同的輸入阻抗
8*可選配功率量測(cè)軟件以進(jìn)行電源質(zhì)量測(cè)試與分析
9*可選配串行總線的觸發(fā)、譯碼功能.軟件可支持I2C,SPI以及UART
固緯gwinstek推出GDS-3000系列示波器采用VP（VisualPersistenceOscilloscope）信號(hào)處理技術(shù)以高速波型更新率以及多層次余輝顯示來提高波型顯示能力的效能。GDS-3000系列的設(shè)計(jì)采用了高速FPGA并列處理模式，取代了傳統(tǒng)的微處理器架構(gòu)，大大地提高數(shù)據(jù)處理速度及波形的獲取速率，VPO技術(shù)使GDS-3000系列能對(duì)于測(cè)試訊號(hào)所發(fā)生的頻率度能以類似模擬示波器的多層次余輝來表示。由于ＶＰＯ技術(shù)示波器對(duì)于所顯示的訊號(hào)皆包含振幅，時(shí)間和訊號(hào)強(qiáng)度之三維波形數(shù)據(jù)來顯示每個(gè)波點(diǎn)，相較于一般傳統(tǒng)的數(shù)字儲(chǔ)存示波器，GDS-3000提供了更多的有用的信息于畫面上。高速波形擷取技術(shù)，可以對(duì)快速的事件如視頻，抖動(dòng)，噪聲和矮波信號(hào)作更的分析.
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 表面電阻和體積電阻率測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 美國(guó)BK PRECISION
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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