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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：慶聲KSON光伏太陽能恒溫恒濕試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-08-19

產(chǎn)品簡介：

專業(yè)為中國區(qū)用戶提供慶聲KSON光伏太陽能恒溫恒濕試驗(yàn)箱（KSON for the Solar Market）儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

    專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測試測量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

慶聲KSON光伏太陽能恒溫恒濕試驗(yàn)箱(KSON for the Solar Market)

        太陽能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上，規(guī)范要求太陽能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test(溫度循環(huán)測試)、Humidity-freeze test(濕冷凍測試)、Damp Heat(濕熱測試)，以確認(rèn)太陽能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)規(guī)范：(IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 ) 的要求才行。

慶聲KSON光伏太陽能恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品特色：

a.支持太陽能電池進(jìn)行測試中量測要求(太陽能電池開路量測系統(tǒng))

b.具備太陽能電池試驗(yàn)整合能力與通訊命令(Labview、VB、VC、C++、RS232)

c.節(jié)能減碳省電設(shè)計(jì)

規(guī)范要求：

a.于模塊測試期間減少凝結(jié)于表面上

b.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

c.可時(shí)間設(shè)定電源時(shí)序開關(guān)控制(滿足IEC61215 、IEC62108 要求)

專li&認(rèn)證：

a.恒溫恒濕機(jī)防止結(jié)露

d.通過EMC防電磁波干擾

 c.專li設(shè)計(jì)太陽能放置治具

 安全保護(hù)：

a.試驗(yàn)結(jié)束待測品回常溫保護(hù)機(jī)制

b.試驗(yàn)機(jī)臺(tái)具備35點(diǎn)內(nèi)外安全保護(hù)偵測(內(nèi)部14點(diǎn)，外部31點(diǎn))

世界shou創(chuàng)：

a.斜率段＆恒溫段同步溫濕度設(shè)定

b.完整實(shí)時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示，無時(shí)間限制

c.試驗(yàn)結(jié)束待測品回常溫保護(hù)機(jī)制

 控制器創(chuàng)新：

a.動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)變化程序編輯曲線

b.溫濕度設(shè)定條件防呆保護(hù)

c.機(jī)臺(tái)重新來電試驗(yàn)曲線不中斷

 d.符合聯(lián)想計(jì)算機(jī)的Labview控制命令

e.AI(人工智能)+Fuzzy(模糊控制)技術(shù)

f.繁簡體中文、英文三種畫面語系切換

高相關(guān)規(guī)范資料介紹：

硅晶太陽能:IEC61215、UL1703 、GB9535

薄膜太陽能:IEC61646、GB18911

聚光太陽能:IEC62108 、IEEE1513

※相關(guān)試驗(yàn)后皆須進(jìn)行規(guī)范所要求的檢查項(xiàng)目(外觀、絕緣電阻、大輸出功率)

Thermal cycle test(溫度循環(huán)測試)

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率

駐留時(shí)間

循環(huán)數(shù)

IEC61215

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB9535

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

UL1703

-40±2℃

90±2℃

大120℃/h

30～105min

200

IEC62108

-40±2℃

65℃、85℃、110℃

10cycle/day

10min

500、1000、2000

IEC62108

-40℃

65℃、85℃、110℃

18cycle/day

10min

500、1000、2000

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

0.9～7.5℃/min

少10min

250、500

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

大100℃/h

少10min

100、200

IEEE1513

-40℃

60℃、90℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷凍測試)

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

溫度循環(huán)比較

高溫高濕

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

IEC61215

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB9535

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

UL1703

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(120℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

IEEE1513

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

20

IEC62108

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

20、40

Damp Heat(濕熱測試)

85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ，目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

 直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

太陽能電池開路量測檢測系統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽能電池在可靠度測試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn)，確認(rèn)太陽能電池在試驗(yàn)過程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效，透過開路測試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡易的太陽能電池失效判定。

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測系統(tǒng)要求：

太陽能電池規(guī)范

IEC61646(薄膜太陽能)

IEC61215(晶圓太陽能)

UL1703(晶圓太陽能)

IEE1513(聚光型太陽能)

整個(gè)測試過程中，監(jiān)測每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

監(jiān)測每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

整個(gè)測試過程中紀(jì)錄模塊溫度

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

并監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)。

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

絕緣電阻需符合如初步量測之相同要求

熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn)

施加電流等于測試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電，模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

  熱循環(huán)  

測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

適用規(guī)范：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yàn)試驗(yàn)條件：溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測軌道：4組太陽能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

失效判定：設(shè)定量測值上下限范圍

報(bào)表：EXCEL報(bào)告

曲線：18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

控制模式：量測、暫停、停止

溫度量測：熱電偶合

備注：此系統(tǒng)不包含太陽能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

建議搭配設(shè)備：太陽能恒溫恒濕機(jī)

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

    薄膜太陽電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨，金屬片等不同材料當(dāng)基板來制造，薄膜太陽電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測及電壓輸入的方式，與晶圓型是不一樣的所以量測方式也所有不同，是不可以混淆的，薄膜型太陽能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm，因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽能電池90%以上)，目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%，薄膜電池太陽電池除了平面之外，也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大，可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份，在薄膜太陽電池制造上，則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù)，一層又一層地把p-型或n-型材料長上去，常見的薄膜太陽電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色：

a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

b.試驗(yàn)過程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測

c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

d.專li設(shè)計(jì)太陽能放置治具

e.試驗(yàn)結(jié)束待測品回常溫保護(hù)機(jī)制

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

要求：

1.整個(gè)測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測試過程中，監(jiān)測每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4.監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)。

慶聲KSON薄膜太陽能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率

駐留時(shí)間

循環(huán)數(shù)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷凍測試)

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

要求：

1.整個(gè)測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測試過程中，監(jiān)測每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4. 監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)。

溫度循環(huán)比較

高溫高濕

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

Damp Heat(濕熱測試)

目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

  直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈