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基礎信息Product information
產品名稱：上海江蘇浙江介電常數測試儀
產品型號：
更新時間：2024-08-21
產品簡介：
堅融實業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供上海江蘇浙江介電常數測試儀儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量全面服務的儀器設備綜合服務商。
產品特性Product characteristics
專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現是德KEYSIGHT】品牌技術經理-堅JET與吉時利KEITHLEY【現泰克Tektronix】品牌產品經理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測試領域十六年，志在破舊立新！*進口儀器設備大多數廠家僅在國內設銷售點，但技術支持薄弱甚至沒有，而代理經銷商也只做商務，不做售前技術支持/測試方案和售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術型銷售均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經驗，以我們*進*的經營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協助用戶采購與技術工程師的工作，提供較有競爭力的供應鏈管理與售前售后技術支持。堅融實業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量全面服務的儀器設備綜合服務商。
上海江蘇浙江介電常數測試儀
主機：TH2839/TH2838/TH2829等系列阻抗分析儀/LCR數字電橋
夾具：TH26077介電測試夾具
上位機軟件：介電分析軟件
材料如果在受到外部電場作用時能夠儲存電能，就稱為 "電介質"。當給平行板電容器施加直流電壓時，如果兩板之間存在介電材料，那么可以儲存比沒有介電材料 (真空) 時更多的電荷。介電材料可以通過中和電極上的電荷，使電容器儲存更多電荷，而通常情況下，這些電荷將流向外部電場。介電材料的電容與介電常數有關。當在平行板電容器上并聯直流電壓源 v 時 (圖 1)，兩板之間有介電材料的配置可以比沒有介電材料 (真空) 的配置儲存更多的電荷。
其中，C 和 C0 分別是有和沒有電介質時的電容；k' = ε'r 是實際介電常數或介電常數，A 和 t 分別是電容器平板的面積和間距 (圖 1)。介電材料可以通過中和電極上的電荷，使電容器儲存更多電荷，而通常情況下，這些電荷將流向外部電場。根據上面的方程式可知，介電材料的電容與介電常數有關
如果在同一個電容器上并聯交流正弦電壓源 (圖 2)，得到的電流將包括充電電流 I_C 和與介電常數有關的損耗電流 I_I 。材料中的損耗可以用與電容器 (C) 并聯的電導 (G) 表示。
復數介電常數 ?? 由實部??^?? (表示儲存電荷) 和虛部??^???? (表示損耗電荷) 組成。
下面的符號可以互換表示復數介電常數
??=??^?=????=??^? ?? 。
根據電磁理論，電位移 (電通量密度) ??_??的定義是:
??_??=????
其中，??=??^?=??_0 ??_??是絕對介電常數， ??_??是相對介電常數,??_0≈1/36??×10^(?9)是自由空間介電常數，E 是電場。
介電常數描述的是材料與電場 E 的相互作用，是一個復數。
??=??/??_0 =??_??=??_?????〖??_??〗^"
介電常數 (k) 等于相對介電常數 (??_?? )，或絕對介電常數 ( ???)與自由空間介電常數 (??_0) 之比。介電常數的實部 ( ??_r^′) 表示外部電場有多少電能儲存到材料中。介電常數的虛部 (??_??^" ) 稱為損耗因子，表示材料中有多少電能耗散到外部電場。介電常數的虛部 (??_??^" ) 始終大于 0，通常遠遠小于 (??_r^′ )。損耗因子同時包括電介質損耗和電導率的效應。
如果用簡單的矢量圖 (圖 3) 表示復數介電常數，實部和虛部的相位將會相差 90°。其矢量和與實軸( ??_r^′ ) 形成夾角δ 。材料的相對 "損耗" 等于損耗電量與儲存電量的比值。
損耗正切或 ????????定義為介電常數的虛部與實部之比。 D 表示耗散因子， Q 表示品質因數。 損耗正切????????可以讀成tan delta、 損耗正切角或耗散因子。 有時， "品質因數或Q因數" 也用來描述電子微波材料的特性， 等于損耗正切的倒數。 對于損耗非常低的材料， ????????≈??， 所以損耗正切可以用角度單位毫弧度或微弧度來表示。
上海江蘇浙江介電常數測試儀，元器件參數測試儀TH2851精密阻抗分析儀 5個型號可選(10Hz-130MHz)應用領域
無源元件：
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：
LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
介質材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
技術參數
產品型號 TH2851-015 ，TH2851-030， TH2851-050， TH2851-080 ，TH2851-130
顯示 10.1英寸TFTLCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏
AC測量參數 Cp/Cs、 Lp/Ls、 Rp/Rs、 |Z|、 |Y|、 R、 X、 G、 B、 θ 、 D、 Q、 VAC、 IAC
DC測量參數 VDC、 IDC、 DCR
測試頻率
范圍 10Hz - 15MHz， 10Hz - 30MHz， 10Hz - 50MHz， 10Hz - 80MHz， 10Hz - 130MHz
最高分辨率 1mHz
頻率相對誤差 ≤± 0.0007%
測試電平
AC電壓 5mV - 2Vrms
分辨率 1mV
AC電流 50uA - 20mArms
分辨率 10uA
DC偏置
電壓 0V - ± 40V
電壓分辨率 1mV
電流 0mA - ± 100mA
電流分辨率 40μA
測試端配置 四端對
輸出阻抗 25Ω/100Ω
典型測量時間（速度）
五檔： 1(快速) - 5(精確)1:2.5ms 2:10ms 3:40ms 4:80ms 5:400ms（不包括通訊時間的算數平均值，每個頻率測試速度會略有不同）
最高準確度
1kHz： 0.08%
1MHz： 0.08%
2MHz： 0.5%
10MHz： 1%
130MHz： 5.0%
測量顯示范圍 a 1×10-18； E 1×1018
Cs、 Cp ± 1.00000 aF - 999.999 EF
Ls、 Lp ± 1.00000 aH - 999.999 EH
D ± 0.00001 - 9.99999
Q ± 0.01 - 9999.99
R、 Rs、 Rp、 X、 Z ± 1.00000 aΩ - 999.999 EΩ
G、 B、 Y ± 1. 00000 aS - 999.999 ES
Vdc ± 1.00000 aV - 999.999 EV
Idc ± 1.00000 aA - 999.999 EA
θr ± 1.00000 a rad - 3.14159 rad
θd ± 0.0001 deg - 180.000 deg
Δ% ± 0.0001% - 999.999%
多功能參數列表掃描 1601點，每個點可設置平均數，每個點可單獨分選
掃描參數：測量參數、測試頻率、 AC電壓、 AC電流、 DC BIAS電壓、 DC BIAS電流
圖形掃描
參數 頻率、 ACV、 ACI、 DCV、 DCI
類型 對數、線性、頻率分段
點數 2-1601
通道數 4
曲線數 4條/通道
分屏顯示 16種（通道和曲線）
等效電路分析 3元件模型： 4個、 4元件模型： 3個
晶體振蕩器分析 有
曲線軌跡比對 有
分選 LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨分選
接口 RS232C， USB HOST、 USB DEVICE、 LAN、 GPIB、 HANDLER、 VGA、 HDMI
開機預熱時間 60分鐘
輸入電壓 100-120VAC/198-242VAC可選擇， 47-63Hz
功耗 最大150VA
尺寸（WxHxD） mm3 428x220x325
重量 14.5kg
隨機附件：
TH26047A 四端測試夾具
TH26005D 四端測試夾具
TH26082A 100Ω 標準件
TH26010 鍍金短路板
TH26061D_P1 校準套件
AR05TTS1000N 貼片電阻
選配件：
TH26007A 磁環(huán)測試夾具
TH26008A SMD元件測試夾具
TH26009B SMD元件測試鉗
TH26048 四端測試夾具
TH26062A 四端測試夾具
TH26063 四端測試夾具
TH26108C 四端對貼片測試夾具
TH26077 電介質測試夾具
體積（mm）： 428 (W)×220(H)×325(D)
凈重： 14.5kg
TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產阻抗測試儀器的最新高度。
TH2851系列阻抗分析儀摒棄了傳統國產儀器復雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統，實現了全電腦化操作界面，讓測試更智能、更簡便。
TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。
快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
簡要介紹
測試頻率： 10Hz-130MHz
高精度：采用自動平衡電橋技術，四端對測試配置
高穩(wěn)定性和一致性
高速度：最快達2.5ms的測試速度
高分辨： 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800
點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測試方式
1601點多參數列表掃描功能
四參數測量
自動電平控制（ALC）功能
4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14種分屏顯示方式
強大的分選： LCR模式10檔分選
圖形掃描模式每條曲線單獨分選，頻率分段掃描并分選
高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、 E4980AL、 HP4284A
RS232
HANDLER HMDI
GPIB
USB HOST
VGA
LAN
USB DEVICE
SCPI
TH2851系列阻抗分析儀包括以下幾種類型：
TH2851- 015
TH2851- 030
TH2851- 050
TH2851- 080
TH2851- 130
測試頻率
10Hz-15MHz
10Hz-30MHz
10Hz-50MHz
10Hz-80MHz
10Hz-130MHz
基本精度 0.08%
AC信號源
電壓 5mVrms - 2Vrms
電流 200uA - 20mArms
DC偏置
電壓 0V - ±40V
電流 0mA - ±100mA
A.高精度
寬帶自動調零型自動平衡電橋技術的應用，得以在10Hz-130MHz頻率、 1mΩ-100MΩ的阻抗范圍內都能達到理想的測量精度，其中最高精度達0.08%，遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網絡分析儀的精度。
下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦ 0.003%（≦± 0.0015Ω ）
B.高穩(wěn)定性和高一致性
C.高速度
D.10.1寸大屏，四種測量參數，讓細節(jié)一覽無遺
E.增強的列表掃描功能
F.強大的分析圖形界面
G.分段掃描功能
最多可以4通道同時顯示，每個通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。
分段掃描是在一個掃描周期內，設置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設置不同的電平及偏置，掃描結果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個頻率段參數的掃描需求。
如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內掃描測量，無需掃描不相關頻率
單通道四曲線顯示
雙通道雙曲線顯示
單通道單曲線
四通道四曲線
10.1寸觸摸屏、 1280*800分辨率， Windows10系統、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、 LAN、 VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數及分選參數、分選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數，四種測量參數任意可調。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數
可以最多設置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。
H.強大的光標分析能力
G.強大的圖形分析功能
TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現如下功能：
1. 讀取測量結果的數值（作為絕對數值或者相對于參考點的相對值）
2. 查找曲線上的特定點（光標查找）
3. 分析曲線測量結果，計算統計數據
4. 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放
TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標，包括了參考光標。
每個光標有一個激勵值（坐標系 X 軸對應的數值）和響應值（坐標系 Y 軸對應的數值）。
光標查找功能允許搜索下列條件測量點：
最大值、最小值
峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標左側最近的峰谷值、光標右側最近的峰谷值、多重峰谷值
目標值： 距離光標最近的目標值、光標左側最近的目標值、光標右側最近的目標值、多重目標值
1） 曲線分選功能
可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。
2） 等效電路分析測試
現實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數四種模型、四參數三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數按照所選擇的模型進行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用
3） 晶體振蕩器分析
對壓電陶瓷等晶體進行測量以及性能分析，測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質因數等重要參數。
F.標配附件
F.選配附件
TH26007A磁環(huán)測試夾具
TH26108C四端對貼片測試夾具
TH26063四端測試夾具
TH26047A四端測試夾具
TH26082A 100Ω標準件
TH26010 鍍金短路板
TH26061D_P1 校準套件
AR05TTS1000N 貼片電阻
TH26005D四端測試夾具
TH26008ASMD 元件測試夾具
TH26009B SMD元件測試鉗
TH26062A四端測試夾具
TH26048四端測試夾具
TH26077電介質測試夾具
·工作頻率： DC-40 MHz
·最大偏置： ± 42 V
·應用： SMD器件，尤其高頻小電容≤3pF或小電感≤1µH，測試頻率≥100kHz,且對D和Q要求高的器件
·工作頻率： DC-120MHz
·最大直流偏置: ± 42V
·應用：小型磁環(huán)單匝電感量測試，尺寸大小可定制
·工作頻率: DC-100kHz
·最大直流偏置： ± 42V
·應用：測試螺栓電容器，DC_LINK電容
·工作頻率： DC-120 MHz
·最大直流偏置: ± 42 V
·應用：用于導線類器件的阻抗測試，帶屏蔽接地端
·工作頻率： DC-120 MHz
·最大直流偏置: ± 42 V
·工作頻率： DC-120MHz
·最大直流偏置: ± 42V
·應用： SMD 器件，尤其高頻小電容≤3pF或小電感≤1µH。測試 頻率≥100kHz
·工作頻率： DC-15 MHz
·最大直流偏置： ± 42V
·應用： 用于各種 SMD 器件測試
·工作頻率: DC-100kHz
·最大直流偏置： ± 42V
·應用：測試電動汽車用薄膜大容
量DC_LINK電容
·工作頻率： DC-120 MHz
·DUT尺寸： 10mm – 56mm
·DUT厚度： ≤10mm
·應用：固體材料的介電分析
·工作頻率： DC-13 MHz
·最大直流偏置： ± 42 V
·應用：用于各種直插式軸向和徑向阻抗器件
4） 曲線軌跡對比
曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測量，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應用：
a) 針對多種不同被測件
對比不同測量條件下的曲線軌跡
設置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值
b) 針對同一個被測件
對比同一個條件下測量的多次測量結果重復性
設置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值
